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王老师：15302780885
简介：同步辐射光电子能谱（SRPES）是利用结合能进行定性分析的表层分析技术，相对于普通的XPS相比，把光源从X射线光源变成了同步辐射光源，其特点是光电子能量可调，从而得到不同深度的元素组分信息；可利用不同元素的能级选择不同的光子能量，获得更强的探测信号；将入射光能量置于紫外区也可以得到较高质量的紫外光电子能谱信息，从而可以分析样品的功函数与价带结构。
应用：同步辐射入射光能量可调，能得到不同深度材料表面的元素组成和含量，以及分析元素的化学价态、化学键等信息。
测试项目：表层分析、深度分析
1.可测试软线0.15-2keV和中能1.75-6keV。
2.表层分析：默认正常浓度每样扫描5次，低浓度需要扫描10次，价格翻倍。每增加1个元素，增加1000元。
3.深度分析：2-3KeV；深度1-2.5nm；3能谱：默认正常浓度每样扫描5次，低浓度需要扫描10次，价格翻倍。每增加1个元素，增加4000元。
2-6KeV；深度1-5nm；3能谱：默认正常浓度每样扫描5次，低浓度需要扫描10次，价格翻倍。每增加1个元素，增加4000元。
2-6KeV；深度1-5nm；5能谱：默认正常浓度每样扫描5次，低浓度需要扫描10次，价格翻倍。每增加1个元素，增加7000元。
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