简介：同步辐射GIWAXS（掠入角广角X射线散射）采用高亮度、高准直的同步辐射光源，具有非接触、非破坏等优点，可以原位地对活性层薄膜进行表征并获得大范围的微观结构统计信息，是微观结构表征的强有力手段。
应用：用来探测分子尺度、结构信息，常用于研究有机给体和受体材料在活性层中的分子堆叠，如结晶度、晶格常数和取向性。
测试项目：GIWAXS
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简介：同步辐射GIWAXS（掠入角广角X射线散射）采用高亮度、高准直的同步辐射光源，具有非接触、非破坏等优点，可以原位地对活性层薄膜进行表征并获得大范围的微观结构统计信息，是微观结构表征的强有力手段。
应用：用来探测分子尺度、结构信息，常用于研究有机给体和受体材料在活性层中的分子堆叠，如结晶度、晶格常数和取向性。
测试项目：GIWAXS
1.样品制备在硅衬底上，样品至少必须大于1×1cm以上
2.掠入射广角散射（GIWAXS）：测试角度10-60度，对应的散射矢量范围约：7nm-1到40nm-1，能量范围8-12keV范围，一般采用12keV来做。
同步辐射光可以大幅度提高灰度/强度，能更清晰地观察到取向性。
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