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刘老师：15363050875
简介：同步辐射吸收谱（X-ray Absorption Fine Structure，XAFS）是将X射线能量调整为与所研究元素的内电子层一致，然后用于检测样品，然后监测吸收的X射线数量及其能量的函数关系，从而获得吸收原子与相邻原子之间的距离， 这些原子的数量和类型，以及吸收元素的氧化态。
应用：近边吸收谱（XANES）可得到吸收原子的电子结构，包括价态，对称性，轨道占据等信息；扩展边吸收谱（EXAFS）可得到吸收原子周围配位信息，包括配位原子种类，键长，配位数，无序度等信息；原位近边吸收谱（in-situ XANES)可进行原位电化学、催化及电池测试。
测试项目：软X射线线、硬X射线线、中能、数据处理
1.粉末样品一般需要100mg以上；
2.块体或者薄膜长宽1×1cm左右；
3.最好提前用ICP或XPS测得样品真实元素含量。
4. 软线：能量100-1500 eV
中能：能量2000-4000 eV
硬线：能量5000-22000 eV
高能：能量22000-33000 eV
5.数据分析：普通数据分析：原始数据转换为ERK等数据；
高级数据分析：可进行分析拟合、LCF组分分析、小波变换、XAFS解析、XAFS拟合等。
三部分，为边前区（Pre-edge）、近边区(XANES)和扩展边（EXAFS），XANES可以得到 吸收原子的电子结构，包括价态，对称性，轨道占据等信息；EXAFS可以得到吸收原子周围配位信息，包括配位原子种类，键长，配位数，无序度等
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