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刘老师：15363050875
仪器简介：
用于半导体材料或块体材料（薄层电阻）的专用仪器；可用于测试硅晶片及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、金属薄膜等材料的电阻和方块电阻。
1、固体导体的电阻率可以通过欧姆定律和电阻定律测量；
2、测试得到的电阻可以通过换算得到电导率；
3、电导和电阻的关系，如果R是电阻（单位欧姆Ω），电导为G（单位西门子S），则：G = 1/R；
4、电阻=方阻x膜厚
测试说明：
粉末和块状/薄膜电阻率测试分为低阻计和高阻计，低阻计一般测试金属、石墨烯、石墨等导电性物质，电阻＜10KΩ；高阻计一般是测试塑料、布等导电性不好的物质，电阻＞10KΩ；水溶液和有机溶液均可测试，结果为数据，无图谱。
粉末样品提供3g左右，按体积至少需要1ml以上；
块状/薄膜：直径＞1cm，厚度＞1mm（太薄了探针可能会刺穿样品，影响数据）；
溶液最少需要10mL。
粉末电阻率范围：1.5×10^-5～ 2×10^5Ω·cm；薄片电阻率范围：10 ^-4～ 10^5Ω·cm；金属及合金类材料电阻率极低，超出检测下限、而陶瓷等无机材料电阻率过大，会超出检测上限，不适合用四探针法测试；
1. 在新测试账户中首次预存5000元及以上，即可开通预存支付；
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