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刘老师：15363050875
仪器简介：
扫描电子显微镜具有超高分辨率，可应用于各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。配备高性能X射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析。放大倍数可达几十万倍，分辨率可达纳米级别，是形貌和成分分析领域极其重要的一种工具。
仪器主要参数指标：
放大倍数：20~2000000倍；分辨率：0.8nm；
发射电压：200V至30KV；着陆电压：20V至30KV；
电子束流：1pA~50nA；
样品室内径：340mm，分析工作距离10mm；
能谱元素分析范围：Be4-U92。
可做测试项目：
形貌、点扫EDS、线扫EDS、背散BSE、能谱面扫（mapping）；可镀金，非磁、弱磁样品均可拍摄。
云现场机时有限，下单前请先跟工作人员联系，沟通拍摄要求及确认预约时间后再下单。
样品类型：粉末、液体、薄膜、块体；
样品重量及尺寸：粉体样品10mg；块体样品长宽高均≤1cm；
喷金：备注是否喷金。（导电性不好的样品需要喷金）；
能谱仪元素分析：样品不能含有放射性元素，样品表面最好为平面；
为避免设备损坏，不接收强磁性材料样品；
SEM成像，是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。喷金后样品表面导电增强，从而避免积电现象。样品表面喷金后，在其表面覆盖了厚度几个纳米到十几个纳米金原子层，对于形貌几乎无影响。
能谱点扫，线扫和mapping分别是在点范围，线范围，和面范围内获得样品的元素半定量信息，线扫和mapping除此之外还能分析元素在线或面范围内的分布情况。它们的意义在于点扫可以测试材料某一位置的元素种类和含量，面扫（mapping）的意义主要在于了解材料元素的区域分布，线扫的意义在于了解材料一条线上各个点的元素含量的变化。
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