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刘老师：15363050875
简介：
X射线荧光光谱仪（XRF）是用高能量X射线或伽玛射线撞击材料时激发出的次级X射线，在根据其待测元素的波长和强度可进行定性分析和定量分析，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。
应用：
根据各元素的特征X射线的强度，可以测定元素含量。
大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。
可测试项目：
定量测试、定性测试。
1、 样品可为粉末、块体、薄膜状态。
2、 块状和薄膜样品尺寸应在3~4cm。
3、 粉末样品需要在3g以上。
因为粉末样品需要和淀粉压片后再进行测试，如果样品的质量太少，容易导致测试结果不准确。
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