简介:
X射线光电子能谱(XPS)是一种用于测定材料中元素构成、实验式,以及其中所含元素化学态和电子态的定量能谱技术。这种技术用X射线照射所要分析的材料,同时测量从材料表面以下1纳米到10纳米范围内逸出电子的动能和数量,从而得到X射线光电子能谱。
应用:
主要用于材料表面灵敏的半定量谱学分析,可分析材料中存在的元素构成,以及元素的化学态和电子态。
主要参数指标,
可测试项目:
常规全谱窄谱测试、俄歇谱、价带谱、深度溅射、MAPPING、角分辨。
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刘老师:15363050875
简介:
X射线光电子能谱(XPS)是一种用于测定材料中元素构成、实验式,以及其中所含元素化学态和电子态的定量能谱技术。这种技术用X射线照射所要分析的材料,同时测量从材料表面以下1纳米到10纳米范围内逸出电子的动能和数量,从而得到X射线光电子能谱。
应用:
主要用于材料表面灵敏的半定量谱学分析,可分析材料中存在的元素构成,以及元素的化学态和电子态。
主要参数指标,
可测试项目:
常规全谱窄谱测试、俄歇谱、价带谱、深度溅射、MAPPING、角分辨。
1、 样品可为粉末、块体、薄膜、液体状态,液体样品一般滴在硅片或者云母片上晾干,一般自己制样,需要实验室制样,请与项目老师联系。
2、 块状和薄膜样品尺寸应小于5*5*3mm,否则测试周期比较久,大于5*5*3mm的需要预约特殊XPS。
3、 粉末样品需要不少于20mg。
4、 一个样品一般只测试一个位置,若需要测试多个位置,按照多个样品来收费。
全谱主要是用来定性分析的,所以设置参数的步长比较大,扫不出含量低的元素的谱峰,但是精细谱扫出谱峰就表示有该元素。
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