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扫描探针显微镜（SPM）

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简介：

扫描探针显微镜（SPM）是通过检测物理探针与样品表面原子分子之间的相互作用的物理场，从而得到样品表面形貌的，其分辨率主要取决于探针的大小（通常在纳米的范围）。

应用：

可以对材料纳米尺度的表面形貌和力学性质等进行定量检测，在正常的扫描速率下获得包括高分辨率的材料粘附力和弹性模量等图像。

可测试项目：

材料表面的形貌观察、力学性能测试、电学性能测试、磁学性能测试。

预存价

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