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刘老师：15363050875
简介：
原子力显微镜（AFM）是利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。是一种可以用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器，具有纳米级高分辨的扫描探针显微镜。AFM的操作模式可大略分为以下三种：分成接触式（Contact mode ）、轻拍式(Tapping mode) 、非接触式(Non-contact Mode) 3种模式。
应用：
原子力显微镜观测导电和非导电样品的表面结构，其应用领域更为广阔，除物理、化学、生物等领域外，原子力显微镜在微电子学、微机械学、新型材料、医学等领域都有着广泛的应用。
可测试项目：
表面形貌、导电性能测试、表面电势测试、磁学性能测试、纳米力学测试、压电力测试。
可为粉末、块体、薄膜样品，粉末和液体样品需说明制样方法。
块体和薄膜样品长宽在5~30mm之间，厚度在1~10mm之间，表面起伏应小于5um，备注好测试面。
粉末样品质量不少于20mg。
液体样品体积不少于1mL。
一般来说AFM仪器测试的最大高度差是10um左右（有些仪器可能更小），如果样品表面起伏过大，就可能会超出仪器扫描范围，甚至会导致针尖容易磨钝或受污染，从而对图像的质量造成影响和耗材成本也会有所增加。
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