简介:
电子探针显微分析(EPMA)是一种显微分析和成分分析相结合的高效率分析仪器,是通过电子束作用于试样微区上而产生的二次电子、背散射电子及X射线等信号,进行固体物质显微分析,包括微区成分、形貌和结构分析。
应用:
可以对金属、高分子、生物、矿物、陶瓷、混凝土等绝大多数固体材料进行微区分析。
可测试项目:
波谱点扫、波谱线扫、波谱面扫(mapping)
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刘老师:15363050875
简介:
电子探针显微分析(EPMA)是一种显微分析和成分分析相结合的高效率分析仪器,是通过电子束作用于试样微区上而产生的二次电子、背散射电子及X射线等信号,进行固体物质显微分析,包括微区成分、形貌和结构分析。
应用:
可以对金属、高分子、生物、矿物、陶瓷、混凝土等绝大多数固体材料进行微区分析。
可测试项目:
波谱点扫、波谱线扫、波谱面扫(mapping)
1、 粉末、薄膜、块状均可。
粉末样品:
(1) 表征粉末表面:至少提供20mg样品。
(2) 表征粉末内部:需要提前沟通确认。
块体样品:直径≤20mm,高度≤10mm;样品上下表面平行,测试面需要抛光。
2、备注是否喷金/喷碳。(不导电样品需要喷金或喷碳。)
3、为避免设备损坏,不接受强磁材料样品。
EPMA成分分析是波谱,是利用特征X射线的波长,实现对不同波长X射线分别检测的。
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