简介:表面光电压谱仪是为研究邮寄半导体、太阳能电池等光敏材料设计的表面光电压仪器,可以测试粉末样品、薄膜样品、半导体、晶体的表面光电压、表面光电流、光伏相位(波长 300~1100mm) , 瞬态表面光电压(激光波长 355mm) 等
应用:应用于有机和非有机半导体、金属和金属合金、薄膜和表面氧化物、太阳能电池与有机光伏、纳米技术等方面
测试项目:稳态表面光电压 (SPV)、稳态表面光电流 (SPC)、瞬态表面光电压 (TPV)、瞬态表面光电流 (TPC)、相位谱等
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刘老师:15363050875
简介:表面光电压谱仪是为研究邮寄半导体、太阳能电池等光敏材料设计的表面光电压仪器,可以测试粉末样品、薄膜样品、半导体、晶体的表面光电压、表面光电流、光伏相位(波长 300~1100mm) , 瞬态表面光电压(激光波长 355mm) 等
应用:应用于有机和非有机半导体、金属和金属合金、薄膜和表面氧化物、太阳能电池与有机光伏、纳米技术等方面
测试项目:稳态表面光电压 (SPV)、稳态表面光电流 (SPC)、瞬态表面光电压 (TPV)、瞬态表面光电流 (TPC)、相位谱等
1.粉末样品需研磨成细小颗粒,且装在离心管或玻璃瓶中,样品量大于0.3ml,即样品量应大于20mg。为避免静电影响取样,样品切忌放在样品袋中。
2.薄膜样品尺寸要求直径1cm左右,基底3.5*1.5cm,并要求薄膜样品有一定的厚度20mm*5mm~~40mm*15mm,预留出一段空白导电玻璃。
3.半导体以及晶体测试需要提前引出阴阳极接头。(薄膜、半导体、晶体只能测试表面光电压)
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