简介：掠入射XRD（GIXRD）是一种新颖的测试薄膜的技术，是以测试时X射线以很小角度入射到样品表面，几乎与样品平行，因此掠入射测试XRD谱图的绝对峰强相对较弱。
应用：掠入射XRD（GIXRD）主要测量表面薄膜晶格、应力等微结构信息，可以测量很薄的薄膜。
测试项目：5~90度——2度/min、5度/min
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简介：掠入射XRD（GIXRD）是一种新颖的测试薄膜的技术，是以测试时X射线以很小角度入射到样品表面，几乎与样品平行，因此掠入射测试XRD谱图的绝对峰强相对较弱。
应用：掠入射XRD（GIXRD）主要测量表面薄膜晶格、应力等微结构信息，可以测量很薄的薄膜。
测试项目：5~90度——2度/min、5度/min
1.样品表面应光滑平整，测试区域边缘处不要有遮挡；
2.样品寄送时请用软材料包装好避免快递运输过程中损坏。
掠入射是平行光源，一旦有遮挡便会测到基底的信号，很容易遮盖需要测试物质的信号。
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