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刘老师：15363050875
全自动（掠入射）小角/广角超小角X射线散射仪，可以在透射或掠入射(GI-)模式下进行小角/广角X射线散射(SAXS/WAXS)测试以及超小角(USAXS)测试，获取各类样品全面的结构信息。可准确反映各种材料内部（固体、液体、胶体等）或薄膜表面的纳米结构信息。
小角/广角X射线散射（SAXS/WAXS）是一种用于研究材料亚微观结构的非破坏性技术。该技术利用X射线与电子的散射效应，能够检测和分析样品的纳米结构信息，是表征纳米材料微观结构的重要手段。SAXS/WAXS主要应用于材料内部纳米尺度的电子密度不均匀性结构、纳米粉末的粒度分布及微观构象、薄膜界面和相结构、合金非晶基体的相分离与纳米晶析出相、有机-无机杂化材料中的电子密度波动、高分子材料的周期结构有序性及尺寸表征，以及材料纳米结构在时间、温度和力场变化下的动态演化过程研究等。该技术适用于粉体颗粒、微相分离、高分子薄膜、纳米复合材料以及胶体和蛋白质溶液等类别样品的表征。
应用：纤维、薄膜样品的取向分布、晶格畸变、晶畴尺寸等结构特征的分析。
测试项目：透射、掠入角
1.薄膜（片状）样品一般情况，长2.5 cm，宽0.3~0.7 cm，厚度小于5mm。如果样品不充足的情况，可制成宽0.3-0.7 cm，长0.7 cm，厚度低于5mm；
2.粉末样品需用高温胶将样品粘在垫片中间的圆孔上，并需要另外制备一个高温胶作为背景，而垫片的外径为9mm，内径为3.5mm；
3.纤维样品需整齐地扎成一束，平铺直径大于等于3mm，长度最好在2.5~3cm（样品不足，可以为1.5cm）；
4.对于块体样品，一个方向算一个样，多个方向，费用是乘以相应的个数。对于粉末样品，高温胶背景按照1个样品计算。如果是很多样品，只做一个背景就可以，这个指的是同一次测的样品，因为背景的条件需要和样品的一模一样。标样（Si或CeO2或山嵛酸银）数据免费提供，空白背景数据需要按一个样收费。
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