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刘老师：15363050875
仪器简介：
XRD是通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态。XRD作为结构研究的一种重要方法，XRD在材料的研究中具有非常重要的应用。
应用：
X射线衍射仪能够精确地对金属和非金属进行物相定性、定量分析，薄膜材料的物相、厚度、密度、粗糙度分析，结晶度分析、晶胞参数计算和固溶体分析，微观应力及晶粒大小分析，微区分析。
参数指标：
测角仪2θ转动范围：-110°~168°，最小步长：0.0001°；
原位附件：两种加热方式：直接加热法：室温~1600℃；环境加热：室温~1100℃，1300℃；
谱库：COD数据库
可测试项目：
广角: 5--90°、小角：0.5--10°；
常规测试速率：10°/min、5°/min、2°/min；小角测试速率：1°/min, 0.5°/min；
粉末样品：需0.1g以上，需要粒度均匀，无颗粒感；
块状或薄膜样品：要求长宽1-2cm（一般不小于1cm），厚度不超出15mm，需要注明测试面（平整光洁）
XRD采用单色X射线为衍射源，一般可以穿透固体，从而验证其内部结构，因此XRD给出的是材料的体相结构信息。
XRD多以定性物相分析为主，但也可以进行定量分析。通过待测样品的X射线衍射谱图与标准物质的X射线衍射谱图进行对比，可以定性分析样品的物相组成；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析。
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